Profesor: Dr. Iuori Kuadriatsevt 

Objetivo de curso

Consideración teórica de la interacción ión-sólido, Rayos-X-solidó y electrón-sólido como principio físico de diferentes técnicas de análisis superficial. Estudio de algunas características analíticas de técnicas modernas de análisis de superficies y revisión de instrumentos modernos de análisis. 

Descripción del Curso

Categoría del Curso: Optativo 
Nivel del Curso: Maestría 
Numero de horas: 48 horas 

Temario del Curso

Introducción 
Aplicaciones de rayo de electrones o rayo de iones en el análisis de superficies. 
Sistemas con alto vacio: formacion de vacio, medicion de vació, técnica de alta vació. 

2. Descripción física de la interacción ión-sólido

- Teoría de colisiones atómicas 
- Erosión mediante bombardeo con iones (sputtering) 
- Implantación de iones 

3. Rayo de iones en análisis de materiales

Espectrometría de Iones Dispersados, (ISS) 
Espectroscopia Rutherford de Retrodispersión, (RBS) 
Espectrometría de Masas de Iones Secundarios, (SIMS) 
Espectrometría de Masas de Átomos Neutros Secundarios, (SNMS) 

4. Interacción de Rayo de Electrones y Sólido

- Procesos físicos involucrados en la interacción electrón-sólido 
- Difracción de electrones en cristales 
- Algunos efectos especiales en la interacción electrón-sólido.  

5. Rayo de Electrones en el Análisis de Materiales

Difracción de electrones de baja energía o alta energía, (LEED, HEED)

Microscopio electrónico de barrido, (SEM) 
Microscopio electrónico de transmisión, (TEM) 
Microscopio de Electrón Auger, (AES, SAM) 
Microanálisis Electrón Fotón , (EPMA) 
f. Espectroscopia Electrónica para Análisis Químico, (ESCA, XPS)  

6. Rayos-X en el Análisis de Materiales

- Difracción de Rayos-X 
- Fluorescencia de Rayos-X  

7. Nuevos métodos para el análisis de superficies

- Bases físicas de microscopio de contacto 
- Microscopia de Fuerza Atómica – Microscopia de Tunelamiento, (STM – AFM) 

REFERENCIAS

  • Sputtering by Particle Bombardment, Part I Physical Sputtering of Single-Element Solids. Ed. by R. Behrisch, Springer – Verlag, 1981
  • Methods of surface analysis, Ed. by A.W. Czanderna, Elsevier, 1975
  • Feldman, Leonard C., Fundamentals of surface and thin film analysis, North Holland , 1986
  • Briggs, D. and Seah M.P., Practical surfaces analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, J. Wiley and Sons, 1984
  • D.P. Woodruff, T.A. Delchar, Modern techniques of Surface Analysis, Cambridge University Press, New York, 1986
  • D. Sarig, Scanning Force Microscopy, Oxford University Press, 1991 

Responsable del Curso : Dr. Yury Kudriavtsev, Profesor Titular del SEES

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